高分辨率ICP-OES優(yōu)異的光學(xué)性能

光學(xué)系統(tǒng)是光譜分析儀器的心臟。PQ9000高分辨率ICP-OES獨特的分光設(shè)計，將中階梯光柵的分辨率提高到極致，遠遠超過了當今平面光柵的性能。

德國耶拿PQ9000高分辨率ICP-OES采用性能優(yōu)異的卡爾蔡司原裝光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)分辨率高，采用最少的光學(xué)器件，保證最大的光通量，石英涂膜光學(xué)部件，確保儀器經(jīng)久耐用，雜散光最低。

-  PQ9000高分辨率ICP-OES采用原裝的卡爾蔡司光學(xué)系統(tǒng)，性能優(yōu)異

-  波長從160~900nm連續(xù)覆蓋，能測167.022nm之A和894.347nm之Cs

-  優(yōu)于0.0004nm的波長準確度

-  最佳的氖線動態(tài)波長校正，保證波長的長期穩(wěn)定性和準確性

高性能的新一代CCD檢測器

PQ9000高分辨率ICP-OES采用高性能的新一代CCD檢測器，讀出速度更快，量子化效率更好，具有更高的紫外靈敏度和更高的像素分辨率，使用溫度高，暗電流小，從而獲得最準確可靠的分析結(jié)果。

-  高量子化效率和紫外高靈敏度的CCD陣列檢測器

-  像素分辨率優(yōu)于0.002nm

-  自動選擇最佳積分時間，快速讀出

-  動態(tài)檢測范圍大于6個數(shù)量級

-  同時記錄元素線與其直接光譜環(huán)境，自動扣除背景

-  快速恒溫:-6~-10℃，Peltier制冷，≤5min，開機即測

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