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LitesizerTM粒度分析儀顆粒體系非常復(fù)雜-華普通用

發(fā)表日期:2019/07/04 瀏覽次數(shù):

LitesizerTM粒度分析儀顆粒體系可能非常復(fù)雜


微納米顆粒的尺寸及穩(wěn)定性對于它們的功能至關(guān)重要,對于它們的處理和流動性也同樣重要。

安東帕是高性能分析儀器的領(lǐng)先開發(fā)商和制造商,它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合,研發(fā)出直觀又輕松易用的顆粒分析儀:

LitesizerTM粒度分析儀通過光散射技術(shù)(如透光率和折光率)和巧妙簡易的軟件測量粒徑zeta電位和分子量

LitesizerTM100粒度分析儀

采用 LitesizerTM100粒度分析儀可測量多種樣品的粒徑和透光率。它會讓您對顆粒體系有一個快速而準確的認識,展示這些顆粒體系如何隨時間、pH值、溫度和濃度變化,從而為您提供優(yōu)化工具。

LitesizerTM 500粒度分析儀

LitesizerTM500粒度分析儀可進行上述所有測量,同時還能測量zeta電位、分子量和折光率。采用獨特Ω形毛細管結(jié)合 cmPALS專利技術(shù)(歐洲專利2735870)能確保進行快速、穩(wěn)定、可重復(fù)的zeta電位測量,即使是敏感和渾濁樣品。此外, LitesizerTM500粒度分析儀可提供不同散射角度,從而在測量濃縮或稀釋樣品時均能提供最佳測量條件。

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